ASTM E2444-2005e1 与反射薄膜上测量的相关术语

作者:标准资料网 时间:2024-05-19 17:22:48  浏览:9430   来源:标准资料网

【英文标准名称】:TerminologyRelatingtoMeasurementsTakenonThin,ReflectingFilms
【原文标准名称】:与反射薄膜上测量的相关术语
【标准号】:ASTME2444-2005e1
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2005
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:E08.02
【标准类型】:(Terminology)
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子工程;电子设备;测量;机械的;术语;薄膜;词汇
【英文主题词】:
【摘要】:1.1Thisstandardconsistsoftermsanddefinitionspertainingtomeasurementstakenonthin,reflectingfilms,suchasfoundinmicroelectromechanicalsystems(MEMS)materials.Inparticular,thetermsarerelatedtothestandardsinSection,whichweregeneratedbyCommitteeE08onFatigueandFracture.TerminologyE1823RelatingtoFatigueandFractureTestingisapplicabletothisstandard.1.2Thetermsarelistedinalphabeticalorder.
【中国标准分类号】:A42
【国际标准分类号】:01_040_31;31_240
【页数】:3P.;A4
【正文语种】: